В сборнике обсуждаются требования к контролю веществ высокой чистоты, возможности и перспективы развития современных методов анализа, повышения их чувствительности и точности, а также условия работы с высокочистыми веществами. В книге излагаются в виде детальных прописей радиоактивационный, масс-спектральный, эмиссионный спектральный, спектрофотометрический, люминесцентный и полярографический методы определения примесей более чем в 30 металлах, неметаллах, интерметаллидах и реактивах. Некоторые из включенных методов были опубликованы в периодической печати, некоторые публикуются впервые. Разнообразие методов, основанных на различных принципах, дает возможность исследователям выбрать наиболее пригодный в каждом отдельном случае метод анализа. Такой единый сборник проверенных методов- анализа полупроводниковых веществ публикуется впервые. Воспроизведено в оригинальной авторской орфографии издания 1965 года (издательство "Москва Наука").