Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для материаловедения

Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для материаловедения

Д. Синдо Т. Оикава

     

бумажная книга

5.72 USD


В корзину


Наличие на складе:

Склад в Москве

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 23.07.2020; планируемая отправка: 24.07.2020

Склад в С.-Петербурге

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 28.07.2020; планируемая отправка: 29.07.2020



Издательство: Техносфера
Серия: Мир материалов и технологий
Дата выхода: июнь 2006
ISBN: 5-94836-064-4
Тираж: 3 000 экземпляров
Объём: 256 страниц
Масса: 370 г
Обложка: твёрдая
Переводное издание: Analytical Electron Microscopy for Materials Science

Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам: на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны, подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов.
В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.
Настольная книга материаловеда.