6.79 USD
Наличие на складе:
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 08.09.2024; планируемая отправка: 09.09.2024
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 11.09.2024; планируемая отправка: 12.09.2024
Издательство: | Техносфера |
Серия: | Мир материалов и технологий |
Дата выхода: | июнь 2006 |
ISBN: | 5-94836-064-4 |
Тираж: | 3 000 экземпляров |
Объём: | 256 страниц |
Масса: | 370 г |
Обложка: | твёрдая |
Переводное издание: | Analytical Electron Microscopy for Materials Science |
Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам: на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны, подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов.
В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.
Настольная книга материаловеда.