Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 21.12.2025; планируемая отправка: 22.12.2025
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 24.12.2025; планируемая отправка: 25.12.2025
Технические характеристики
Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам: на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны, подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов.
В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.
Настольная книга материаловеда.