18.44 USD
Наличие на складе:
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 31.07.2024; планируемая отправка: 01.08.2024
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 28.07.2024; планируемая отправка: 29.07.2024
Издательство: | Лань |
Дата выхода: | январь 2020 |
ISBN: | 978-5-8114-4293-5 |
Объём: | 88 страниц |
Рассматриваются возможные типы неисправностей, возникающих в цифровых объектах. Анализируются традиционные методы обработки реакций объектов, предлагаются два новых метода, ориентированные на поиск одиночных дефектов, - метод суммарного вектора и метод суммарных векторов. Для поиска кратных дефектов в системах параллельного диагностирования предлагается метод сравнения с неисправным объектом. Рассматривается способ повышения надежности коммутаторов за счет распараллеливания коммутаций. Предназначено для студентов радиотехнических и компьютерных специальностей, аспирантов, исследователей в области технической диагностики.