Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 15.12.2025; планируемая отправка: 16.12.2025
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 12.12.2025; планируемая отправка: 13.12.2025
Технические характеристики
Рассматриваются возможные типы неисправностей, возникающих в цифровых объектах. Анализируются традиционные методы обработки реакций объектов, предлагаются два новых метода, ориентированные на поиск одиночных дефектов, - метод суммарного вектора и метод суммарных векторов. Для поиска кратных дефектов в системах параллельного диагностирования предлагается метод сравнения с неисправным объектом. Рассматривается способ повышения надежности коммутаторов за счет распараллеливания коммутаций. Предназначено для студентов радиотехнических и компьютерных специальностей, аспирантов, исследователей в области технической диагностики.