Издательство: | Вышэйшая школа |
Дата выхода: | апрель 2011 |
ISBN: | 978-985-06-1834-4 |
Объём: | 216 страниц |
Масса: | 500 г |
Обложка: | твёрдая |
Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов.Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезна аспирантам, инженерам, работающим в области физических исследований и контроля свойств металлов и сплавов.