Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 15.12.2025; планируемая отправка: 16.12.2025
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 18.12.2025; планируемая отправка: 19.12.2025
Технические характеристики
Настоящее учебное пособие состоит из двух частей. В первой части показана природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также представлены методы дифракционного структурного анализа.Во второй части дано применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований, показано применение дифракционного структурного анализа.Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.