Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 13.01.2026; планируемая отправка: 14.01.2026
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 16.01.2026; планируемая отправка: 17.01.2026
Технические характеристики
В книге рассматривается процедура оценки пространственно-частотных характеристик побочных электромагнитных излучений (ПЭМИ) средств вычислительной техники (СВТ) по результатам измерений в ближней зоне во временной области с использованием метода эквивалентного моделирования излучающей структуры и алгоритмов идентификации параметров источников информационного излучения. Представлены различные подходы к описанию электромагнитных излучений (ЭМИ) СВТ в ближней зоне. Рассматривается два метода описания детерминированных ЭМИ, а также характеристики стационарного стохастического излучения, характерного для информационного ПЭМИ СВТ. В предположении о стационарности на интервале измерения и эргодичности ПЭМИ СВТ предлагается концепция построения системы измерения ЭМИ СВТ в ближней зоне, основанная на двухточечном сканировании временных реализаций сигналов компонент электромагнитного поля в плоскости, параллельной плоскости расположения исследуемого объекта. Автором проводится...