Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. Пер.с англ

Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. Пер.с англ

Седрик Рид

     

бумажная книга



Издательство: Техносфера
Серия: Мир наук о земле
Дата выхода: апрель 2008
ISBN: 978-5-94836-177-2
Тираж: 3 000 экземпляров
Объём: 240 страниц
Масса: 450 г
Обложка: твёрдая

Для студентов-геологов. "ЭЗ микроанализ и РЭМ в геологии"