12.68 USD
Наличие на складе:
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 07.09.2024; планируемая отправка: 08.09.2024
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 10.09.2024; планируемая отправка: 11.09.2024
Издательство: | Политехника |
Дата выхода: | август 2017 |
ISBN: | 9785732511154 |
Объём: | 172 страниц |
В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надежность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие "электронного функционала" и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надежность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также ее ничтожную достоверность в случае оценки надежности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена линейная регрессионная модель. Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники.