Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом

Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом

Вишняков В.И ., Вишнякова С.М.

     

бумажная книга



Издательство: МГТУ им. Баумана
Дата выхода: январь 2014
ISBN: 978-5-7038-3832-7
Объём: 32 страниц

Рассмотрены основные закономерности явления интерференции света и интерференции света в тонких пленках. Изложена методика наблюдения колец Ньютона и применения интерференционного метода для определения геометрических параметров поверхностей прозрачных тел, таких, как радиус кривизны поверхностей выпуклой и вогнутой линз, размеры воздушной полости в твердой среде.
Для студентов второго курса всех специальностей МГТУ им. Н.Э.Баумана.

Каталог