Издательство: | МГТУ им. Баумана |
Дата выхода: | январь 2014 |
ISBN: | 978-5-7038-3832-7 |
Объём: | 32 страниц |
Рассмотрены основные закономерности явления интерференции света и интерференции света в тонких пленках. Изложена методика наблюдения колец Ньютона и применения интерференционного метода для определения геометрических параметров поверхностей прозрачных тел, таких, как радиус кривизны поверхностей выпуклой и вогнутой линз, размеры воздушной полости в твердой среде.
Для студентов второго курса всех специальностей МГТУ им. Н.Э.Баумана.