Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом

Вишняков В.И ., Вишнякова С.М.

Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом

бумажная книга
Проверить наличие на складах

Дата отгрузки на данный момент неизвестна.

Товар закончился у основного поставщика, и, после получения заказа от вас, мы закажем его у других поставщиков. Мы не можем гарантировать выполнение данного заказа, поэтому настоятельно не рекомендуем заказывать данный товар, используя предоплату (банковский перевод и т.п.). Заказ на такой товар действителен в течение 3 недель (если в течение 3 недель товар не придет, заказ будет отменен). Однако, это не означает, что товар нельзя заказать вновь, поскольку в некоторых случаях возможны и более поздние поставки.


Технические характеристики
Издательство:
МГТУ им. Баумана
Дата выхода:
январь 2014
ISBN:
978-5-7038-3832-7
Объём:
32 страниц

Рассмотрены основные закономерности явления интерференции света и интерференции света в тонких пленках. Изложена методика наблюдения колец Ньютона и применения интерференционного метода для определения геометрических параметров поверхностей прозрачных тел, таких, как радиус кривизны поверхностей выпуклой и вогнутой линз, размеры воздушной полости в твердой среде.
Для студентов второго курса всех специальностей МГТУ им. Н.Э.Баумана.



Полная версия

Мы принимаем
Подробнее об оплате

1996-2025 © OTALEX