Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов. Монография

Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов. Монография

Дракин А.Ю.

     

бумажная книга



Издательство: Лань
Серия: Учебники для вузов. Специальная литература
Дата выхода: декабрь 2018
ISBN: 978-5-8114-3312-4
Объём: 284 страниц
Масса: 342 г

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».

Каталог