Кристаллография Изд. 3, стер. (2-му изд., пер. и доп.). Цв. илл

Книга, которую Вы держите в руках, рассчитана на подготовку специалистов, которые умели бы целенаправленно выращивать кристаллы с требуемыми свойствами, исследовать, рассчитывать и применять эти кристаллы, для чего требуется активное владение математическим аппаратом кристаллографии и кристаллофизики. Пособие включает в себя элементы классической кристаллографии и избранные разделы кристаллофизики. В нем также даны инженерные методы расчетов физических свойств кристаллов и сведения об их применении в современной технологии.

Первая глава книги посвящена симметрии внешних форм кристаллов. Во второй главе рассматривается симметрия кристаллической структуры: решетки Бравэ, элементы симметрии кристаллических структур, пространственные группы, символы и основные факты об экспериментальном определении структур кристаллов. В третьей главе излагаются некоторые основные вопросы кристаллохимии, особо обращается внимание на связь изменений структуры кристалла с его физико-химическими свойствами. В четвертой главе дается исчерпывающее описание физических свойств кристаллов; рассматривается корреляция между физическими свойствами и различными явлениями, происходящими в кристаллах. Подробное описание механических свойств и пластической деформации кристаллов дано в главе пятой.

В шестой главе излагаются вопросы роста кристаллов, что имеет основное значение для кристаллографов. В ней рассматриваются условия и возможности для роста кристаллов из паров, растворов и расплавов, а также условия и возможности рекристаллизации из различных кристаллических фаз. Кроме того, в этой главе содержатся основные сведения о росте кристаллов, о равновесной и реальных формах кристаллов, о макроскопических дефектах, о нормальном и двойниковом росте кристаллов, об эпитаксии. В конце приводится обзор методов выращивания кристаллов из паров, растворов и расплавов.

В книге обобщен опыт преподавания на кафедре кристаллографии Московского института стали и сплавов, готовящей инженеров, специализирующихся в области полупроводниковых и диэлектрических материалов, редких и цветных металлов, физико-химических методов исследования материалов электронной техники.