LabVIEW. Практикум по основам измерительных технологий

А.С. Бессонов Виктор Батоврин Владимир Мошкин В.Ф. Папуловский

LabVIEW. Практикум по основам измерительных технологий

бумажная книга
Проверить наличие на складах

Склад в Москве

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 12.12.2025; планируемая отправка: 13.12.2025

Склад в С.-Петербурге

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 15.12.2025; планируемая отправка: 16.12.2025


Технические характеристики
Издательство:
ДМК
Серия:
Все о LabVIEW
Дата выхода:
декабрь 2009
ISBN:
978-5-94074-498-6
Тираж:
1 000 экземпляров
Объём:
232 страниц
Масса:
300 г
Размеры (В × Ш × Т):
24 × 17 × 2 см
Обложка:
мягкая
Бумага:
офсетная

Второе издание практикума по основам измерительных технологий посвящено вопросам обработки и представления результатов измерений, а также методам и средствам измерений электрических и неэлектрических величин. Выбор этих разделов обусловлен тем, что с ними чаще всего приходится сталкиваться в учебной и производственной практике. Ядром практикума является комплекс прикладных программ, созданный в инструментальной среде разработки приложений LabVIEW, благодаря чему лабораторные работы могут выполняться как в учебной лаборатории в рамках традиционно организованного учебного процесса, так и на собственном компьютере во время самостоятельной работы в библиотеке или дома. Основное отличие от первого издания заключается в расширении перечня работ за счет введения главы по измерениям неэлектрических величин, а также представлении работ в виде исполняемых приложений для операционной системы Windows XP/Vista.

Данное издание не является оригинальным. Книга печатается по технологии принт-он-деманд после получения заказа.



Полная версия

Мы принимаем
Подробнее об оплате

1996-2025 © OTALEX