LabView: практикум по основам измерительных технологий (+CD)

Виктор Батоврин А.С. Бессонов Владимир Мошкин В.Ф. Папуловский

LabView: практикум по основам измерительных технологий (+CD)

бумажная книга
Проверить наличие на складах

Дата отгрузки на данный момент неизвестна.

Товар закончился у основного поставщика, и, после получения заказа от вас, мы закажем его у других поставщиков. Мы не можем гарантировать выполнение данного заказа, поэтому настоятельно не рекомендуем заказывать данный товар, используя предоплату (банковский перевод и т.п.). Заказ на такой товар действителен в течение 3 недель (если в течение 3 недель товар не придет, заказ будет отменен). Однако, это не означает, что товар нельзя заказать вновь, поскольку в некоторых случаях возможны и более поздние поставки.


Технические характеристики
Издательство:
ДМК
Дата выхода:
март 2001
ISBN:
5-94074-267-X
Тираж:
2 000 экземпляров
Объём:
208 страниц
Масса:
220 г
Размеры (В × Ш × Т):
23 × 16 × 1 см
Обложка:
мягкая

Данная книга содержит практикум по основам измерительных технологий. Работы охватывают основы метрологии и измерительной техники, вопросы обработки и представления результатов измерений и методы и средства электрических измерений. Выбор этих разделов обусловлен тем, что с ними чаще всего приходится сталкиваться в учебной и производственной практике. Основой представленного в настоящем издании практикума является комплекс прикладных программ, созданный в инструментальной среде разработки приложений LabVIEW. Программное обеспечение является оригинальной разработкой авторов учебного пособия и представлено на компакт-диске, поставляемым с книгой.
Издание предназначено для студентов технических вузов, обучающихся по специальностям "Приборостроение", "Информационно-измерительная техника и технологии", "Методы и средства измерений", а также для студентов других направлений подготовки, изучающих смежные дисциплины.



Полная версия

Мы принимаем
Подробнее об оплате

1996-2025 © OTALEX