Бычков А.А.

Математические и компьютерные модели устойчивости упругого и вязкопластического деформирования. (Аспирантура, Бакалавриат, Магистратура). Монография

бумажная книга
25.17 USD В корзину
Проверить наличие на складах

Склад в Москве

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 23.01.2026; планируемая отправка: 24.01.2026

Склад в С.-Петербурге

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 26.01.2026; планируемая отправка: 27.01.2026


Технические характеристики
Издательство:
КноРус
Дата выхода:
июнь 2024
ISBN:
978-5-466-07565-6
Объём:
190 страниц

Рассмотрены модели релаксации полупроводниковой пленки на подложке и однородного деформирования при растяжении стержня из термовязкопластичного материала. Учитывается изменение упругой энергии несоответствия за счет дислокационной перестройки и механизма неоднородного распределения состава компонент пленки. Сформулированы системы уравнений описывающих процессы релаксации в пленке и пластическое деформирование пористого стержня с учетом действия электрического тока и водородной хрупкости. Построены компьютерные модели пленки SiGe нанометровой толщины на Si подложке и SiGe островков нанометровых размеров на смачивающем слое, учитывающие влияние механодиффузии, наличие дислокаций несоответствия, туннельных трещин, проникающих и винтовых дислокаций.



Полная версия

Мы принимаем
Подробнее об оплате

1996-2026 © OTALEX