Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 15.12.2025; планируемая отправка: 16.12.2025
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 18.12.2025; планируемая отправка: 19.12.2025
Технические характеристики
С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Предлагаемое учебное пособие посвящено дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость настоящего издания обусловлена прежде всего тем, что учебные пособия по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор данной книги — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.