Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении

Алла Александровна Шварц Б. Адамс

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении

бумажная книга
Проверить наличие на складах

Склад в Москве

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 20.12.2025; планируемая отправка: 21.12.2025

Склад в С.-Петербурге

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 23.12.2025; планируемая отправка: 24.12.2025


Технические характеристики
Издательство:
Техносфера
Дата выхода:
июль 2014
ISBN:
978-5-94836-385-1
Объём:
544 страниц
Масса:
1500 г

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ. Перевод на русский язык второго оригинального издания книги «Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении» является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области. Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.



Полная версия

Мы принимаем
Подробнее об оплате

1996-2025 © OTALEX