22 USD 17.6 USD
вы экономите 4.4 USD (20%).
Наличие на складе:
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 06.12.2024; планируемая отправка: 07.12.2024
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 09.12.2024; планируемая отправка: 10.12.2024
Издательство: | Техносфера |
Дата выхода: | июль 2014 |
ISBN: | 978-5-94836-385-1 |
Объём: | 544 страниц |
Масса: | 1500 г |
Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ. Перевод на русский язык второго оригинального издания книги «Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении» является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области. Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.