Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей

А.А. Батаев В.А. Батаев А.П. Алхимов

     

бумажная книга

9.17 USD


В корзину


Наличие на складе:

Склад в Москве

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 30.12.2022; планируемая отправка: 31.12.2022

Склад в С.-Петербурге

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 03.01.2023; планируемая отправка: 04.01.2023



Издательство: Флинта
Дата выхода: январь 2007
ISBN: 978-5-9765-0207-9
Тираж: 1 000 экземпляров
Объём: 224 страниц
Масса: 330 г
Размеры(В x Ш x Т), см: 22 x 15 x 2
Обложка: твёрдая

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований.
Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.