Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей
А.А. Батаев В.А. Батаев А.П. Алхимов
бумажная книга
6.22 USD
В корзину
Наличие на складе:
Склад в Москве
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 09.12.2024; планируемая отправка: 10.12.2024
Склад в С.-Петербурге
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 12.12.2024; планируемая отправка: 13.12.2024
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований.
Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.
