Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 19.12.2025; планируемая отправка: 20.12.2025
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 22.12.2025; планируемая отправка: 23.12.2025
Технические характеристики
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований.
Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.