Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей

В.А. Батаев А.А. Батаев А.П. Алхимов

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей

бумажная книга
Проверить наличие на складах

Дата отгрузки на данный момент неизвестна.

Товар закончился у основного поставщика, и, после получения заказа от вас, мы закажем его у других поставщиков. Мы не можем гарантировать выполнение данного заказа, поэтому настоятельно не рекомендуем заказывать данный товар, используя предоплату (банковский перевод и т.п.). Заказ на такой товар действителен в течение 3 недель (если в течение 3 недель товар не придет, заказ будет отменен). Однако, это не означает, что товар нельзя заказать вновь, поскольку в некоторых случаях возможны и более поздние поставки.


Технические характеристики
Издательство:
Наука
Дата выхода:
январь 2009
ISBN:
978-5-02-034811-0
Тираж:
1 000 экземпляров
Объём:
224 страниц
Масса:
560 г
Размеры (В × Ш × Т):
21 × 15 × 2 см
Обложка:
твёрдая

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.



Полная версия

Мы принимаем
Подробнее об оплате

1996-2025 © OTALEX