Издательство: | Логос |
Дата выхода: | январь 2012 |
ISBN: | 978-5-98704-613-5 |
Объём: | 592 страниц |
Освещаются методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов. Рассмотрены меры по обеспечению единства измерений в Российской Федерации, ведущие тенденции развития нанотехнологий за рубежом и в России. Для студентов вузов, получающих образование в области нанотехнологии и нанометрологии