Издательство: | Высшая школа |
Дата выхода: | сентябрь 2002 |
ISBN: | 5-06-004070-4 |
Тираж: | 6 000 экземпляров |
Объём: | 348 страниц |
Масса: | 355 г |
Размеры(В x Ш x Т), см: | 22 x 15 x 2 |
Обложка: | твёрдая |
Изложены ключевые понятия и математические модели элементов измерительного процесса; подробно рассмотрены методы и алгоритмы расчета характеристик погрешности в статическом и динамическом режимах измерения. Большое внимание уделено многократным измерениям, как эффективному способу обеспечения единства измерений относительно погрешности результата измерения; приводятся оптимальные алгоритмы обработки многократных измерений постоянных и переменных величин, а также алгоритмы оценки адекватности моделей этих величин и качества изделий с использованием алгоритмических шкал наименований и порядка.
Для студентов и преподавателей вузов, ведущих подготовку бакалавров, инженеров и магистров по направлению `Стандартизация, сертификация и метрология`. Может быть использовано студентами вузов приборостроительного и машиностроительного профиля.