Предисловие
1 Элементная база
1.1.Полупроводниковые материалы и приборы
1.2.Принцип действия транзистора
1.3.Некоторые другие типы транзисторов
1.4.Основные режимы работы транзисторов
1.5.Логические элементы на транзисторах
1.6.Тиристоры
1.7.Оптроны
1.8.Электромагнитные реле
1.9. Полупроводниковые управляющие устройства (драйверы) для электромагнитных реле
____________________________________
2 Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ)
2.1. Общая структура и конструктивное исполнение микропроцессорных устройств релейной защиты
2.2 Модули аналоговых входов
2.3 Модули выходных реле
2.4 Модули цифровых (логических) входов
2.5 Модуль центрального процессора
2.5.1 Аналого-цифровой преобразователь (АЦП)
2.5.2 Память
2.5.3 Микропроцессор
2.6 Внутренний источник питания
2.7 Система самодиагностики МУРЗ
2.8 Новая концепция построения МУРЗ
2.9 Литература к Гл. 2
____________________________________
3 Надежность МУРЗ: проблемы и решения
3.1 Мифы о надежности МУРЗ
3.1.1 Отсутствие в МУРЗ подвижных частей
3.1.2 Сравнительная надежность электромеханических, полупроводниковых и микропроцессорных реле
3.1.3 Надежность и самодиагностика
3.1.3.1 Элементы памяти
3.1.3.2 Источники питания
3.1.3.3 Узел аналоговых входов
3.1.4 МУРЗ содержит меньшее количество элементов
3.1.5 Существование электроэнергетики невозможно без МУРЗ
3.1.6 Еще один класс проблем о котором предпочитают не упоминать
3.2 Выходные электромагнитные реле: проблемы и решения
3.3 Логические входы: проблемы и решения
3.4 Реальные данные о надежности МУРЗ
3.5 Проблемы оценки надежности МУРЗ
3.4 Литература к Гл. 3
__________________________________
4 Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
4.1 Чувствительность МУРЗ к электромагнитным воздействиям
4.2 Грозовые разряды
4.3 Коммутационные процессы и электромагнитные поля от работающего оборудования
4.4 Проблемы экранирования контрольных кабелей
4.5 Искажения сигналов в цепях трансформаторов тока
4.6 Влияние на МУРЗ гармоник в измеряемом токе и напряжении
4.7 Качество напряжения в питающей сети
4.8 Преднамеренные деструктивные электромагнитны воздействия
4.8.1 Актуализация проблемы электромагнитной совместимости для современной энергетики
4.8.2 Классификация и особенности преднамеренных деструктивных электромагнитных воздействий
4.8.3 Воздействие ПДЭВ на МУРЗ
4.8.4 Возможные пути решения проблемы защиты МУРЗ от ЭМИ.
4.8.5 Повышение живучести МУРЗ
4.9 Киберопасность
4.10 Литература к Гл. 4
