Микроскопические методы исследования материалов

Микроскопические методы исследования материалов

Эшли Кларк Колин Эберхардт

     

бумажная книга



Издательство: Техносфера
Дата выхода: октябрь 2007
ISBN: 978-5-94836-121-5
Тираж: 3 000 экземпляров
Объём: 376 страниц
Масса: 650 г
Размеры(В x Ш x Т), см: 24 x 17 x 3
Обложка: твёрдая

За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и oптические методы исследования материалов.
В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов.
В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические — например, акустические и рентгеновские.
Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкций структуры композитов.
Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.