Моделирование метрологических характеристик интелектуальных измерительных приборов и систем

В. П. Шевчук

Моделирование метрологических характеристик интелектуальных измерительных приборов и систем

бумажная книга
12.64 USD 12.26 USD
вы экономите 0.38 USD (3%)
В корзину
Проверить наличие на складах

Склад в Москве

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 24.12.2025; планируемая отправка: 25.12.2025

Склад в С.-Петербурге

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 27.12.2025; планируемая отправка: 28.12.2025


Технические характеристики
Издательство:
Физматлит
Дата выхода:
август 2011
ISBN:
978-5-9221-1314-4
Объём:
320 страниц

В книге предлагается классифицировать информационно-измерительные и управляющие системы по типу уравнения измерения критерия управления. Приведены основные уравнения обобщенных технико-экономических критериев управления. Предложены математические модели физических процессов формирования систематической методической динамической составляющей погрешности измерения в аналоговых, цифровых и программно-аппаратных измерительных каналах и системах. Подробно рассмотрены модели метрологических характеристик виртуальных приборов и характеристик информативности интеллектуальных измерительных систем. Исследованы метрологические свойства конкретных виртуальных приборов и алгоритмов визуализации процессов измерения. Для научных работников, аспирантов и инженеров, занимающихся разработкой виртуальных приборов и исследованием метрологических характеристик информационно-измерительных и управляющих систем. Может быть полезна студентам старших курсов технических ВУЗов при выборе тематики магистерских...



Полная версия

Мы принимаем
Подробнее об оплате

1996-2025 © OTALEX