Книга посвящена моделированию процессов деградации и дозовых (TID) и одиночных (SEE) радиационных эффектов в современных кремниевых СБИС при воздействии ионизирующих излучений. Описаны физические механизмы дозовой деградации в интегральных элементах КМОП и биполярных технологий. Главное внимание уделено моделированию трех основных радиационных эффектов, типичных для бортовой электроники космических аппаратов.

(1)Радиационно- индуцированная краевая утечка в цифровых элементах КМОП технологий, включая технологии «кремний-на- изоляторе».(2)Схемотехническое моделирование характеристик и методы расчетов интенсивностей одиночных сбоев (SER) и отказов, вызванных одиночными частицами космических излучений. (3) Моделирование эффекта усиления деградации при низкоинтенсивном облучении (ELDRS), характерного для приборов биполярных технологий. Книга в значительной степени основана на работах самого автора, опубликованных за последние 5 лет в ведущих мировых журналах.