La microscopie a force atomique (AFM) en mode contact vibrant est sensible aux proprietes elastiques des materiaux. L'objectif de ce travail est d'obtenir des informations quantitatives (les modules elastiques) a partir des images AFM. La partie theorique consiste en une mise en equation de la mecanique du levier et en l'etude des deformations elastiques du systeme pointe-echantillon. D'un point de vue experimental, la reussite de notre approche provient de l'excitation des leviers par une force electrostatique, et d'un etalonnage de la frequence de resonance sur des materiaux aux proprietes connues. Nous avons applique les methodes precedentes pour mesurer l'elasticite des constituants sub-microscopiques de la paroi cellulaire du bois. Par un traitement mathematique des images AFM obtenues a une frequence unique, nous avons developpe une methode qui donne directement des images de l'elasticite absolue et des pertes visqueuses.

Данное издание не является оригинальным. Книга печатается по технологии принт-он-деманд после получения заказа.