И. Атовмян В.В. Шувалов Е. Березкин С.М. Ковалевский

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

электронная книга

Технические характеристики
Дата выхода:
июнь 2014

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.



Полная версия

Мы принимаем
Подробнее об оплате

1996-2025 © OTALEX