Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

И. Атовмян В.В. Шувалов Е. Березкин С.М. Ковалевский

     

электронная книга



Дата выхода: июнь 2014
Размер файла: 150 Кб

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.

Каталог