Основы математической метрологии

Основы математической метрологии

Цветков Эрик Иванович

     

бумажная книга



Издательство: Политехника
Дата выхода: январь 2019
ISBN: 9785732507935

В монографии представлены основы теории математических моделей объектов, условий, процедур и средств измерений. Дан формализованный аппарат описания моделей объектов и процедур, свойств результатов и погрешностей результатов измерений. Представлено базовое алгоритмическое обеспечение метрологического анализа типовых процедур измерений. Книга предназначена для метрологов и специалистов-измерителей, ориентирующихся на использование современных информационных технологий, преподавателей, аспирантов и студентов вузов соответствующих специальностей.

Каталог