Основы метрологии, стандартизации и сертификации

Н.Д. Дубовой Е. М. Портнов

Основы метрологии, стандартизации и сертификации

бумажная книга
Проверить наличие на складах

Дата отгрузки на данный момент неизвестна.

Товар закончился у основного поставщика, и, после получения заказа от вас, мы закажем его у других поставщиков. Мы не можем гарантировать выполнение данного заказа, поэтому настоятельно не рекомендуем заказывать данный товар, используя предоплату (банковский перевод и т.п.). Заказ на такой товар действителен в течение 3 недель (если в течение 3 недель товар не придет, заказ будет отменен). Однако, это не означает, что товар нельзя заказать вновь, поскольку в некоторых случаях возможны и более поздние поставки.


Технические характеристики
Издательство:
Инфра-М
Дата выхода:
февраль 2009
ISBN:
978-5-16-003172-9
Тираж:
2 000 экземпляров
Объём:
256 страниц
Масса:
370 г
Обложка:
твёрдая

В учебном пособии охватываются новейшие аспекты развития стандартизации, метрологии и сертификации в области информационных технологий. Приводятся особенности стандартизации и сертификации в России, затрагиваются вопросы деятельности отечественных и зарубежных организаций по стандартизации, единства измерений, организации метрологического обеспечения производства, разработки и применения стандартов.
Предназначено для студентов средних специальных учебных заведений всех специальностей, изучающих дисциплину "Метрология, стандартизация, сертификация". Может быть полезно студентам и преподавателям вузов, руководителям и специалистам предприятий и организаций, работающим в области стандартизации и управления качеством.



Полная версия

Мы принимаем
Подробнее об оплате

1996-2025 © OTALEX