Semiconductor Memory Testing. Fault Models and Test Considerations for High Performance Embedded SRAMs

Semiconductor Memory Testing. Fault Models and Test Considerations for High Performance Embedded SRAMs

Anuj Gupta

     

бумажная книга

Продать эту книгу

Издательство: Книга по требованию
Дата выхода: июль 2011
ISBN: 978-3-6391-9440-1
Объём: 64 страниц
Масса: 117 г
Размеры(В x Ш x Т), см: 23 x 16 x 1

Stringent test quality requirements, at-speed test limitations

Данное издание не является оригинальным. Книга печатается по технологии принт-он-деманд после получения заказа.

Каталог