Состояние теории и методики электронографического структурного анализа позволяет в настоящее время дать систематическое изложение этого предмета, не затрагивая других применений диффракции электронов. Этой цели и служит предлагаемая вниманию читателя книга. В ней рассмотрены прежде всего особенности и возможности электронографии в ряду других диффракционных методов исследования вещества и сформулированы общие положения о связи структуры рассеивающего объекта с диффракционной картиной. Далее, в соответствии с основными этапами структурного исследования, развита геометрическая теория электронограмм и определения по ним элементарной ячейки, теория интенсивностей, разобраны главные свойства рядов Фурье, являющихся основой современного структурного анализа, и применение их в электронографии. Методика исследований иллюстрируется примерами определения структур неорганических и органических кристаллов. Воспроизведено в оригинальной авторской орфографии издания 1956 года (издательство "АН СССР").