Капустин В.И., Сигов А.С., Ли И.П. и др.

Точечные дефекты в оксидах и эмиссионные свойства

бумажная книга
23.09 USD В корзину
Проверить наличие на складах

Склад в Москве

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 24.01.2026; планируемая отправка: 25.01.2026

Склад в С.-Петербурге

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 27.01.2026; планируемая отправка: 28.01.2026


Технические характеристики
Издательство:
Инфра-М
Дата выхода:
февраль 2022
ISBN:
978-5-16-017376-4
Объём:
248 страниц

В монографии рассмотрены вопросы влияния точечных дефектов в оксидах, являющихся основным эмиссионным компонентом катодов электровакуумных СВЧ-приборов, на их эмиссионные свойства. Изложена теория электронной эмиссии оксидов, аналитические методы исследования катодов, методы исследования их эмиссионных свойств. Детально рассмотрены вопросы теории и физикохимии оксидно-никелевых, металлопористых, металлосплавных и оксидно-иттриевых катодов, в том числе катодов для магнетронов с холодным запуском. Предназначена для научных и инженерно-технических работников, специализирующихся в области электронного материаловедения и электронных приборов. Может также служить учебником, полезным преподавателям, аспирантам, магистрантам, студентам-старшекурсникам соответствующих физико-технических и естественно-научных специальностей.



Полная версия

Мы принимаем
Подробнее об оплате

1996-2026 © OTALEX