Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография

Д. Боуэн

Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография

бумажная книга
Проверить наличие на складах

Дата отгрузки на данный момент неизвестна.

Товар закончился у основного поставщика, и, после получения заказа от вас, мы закажем его у других поставщиков. Мы не можем гарантировать выполнение данного заказа, поэтому настоятельно не рекомендуем заказывать данный товар, используя предоплату (банковский перевод и т.п.). Заказ на такой товар действителен в течение 3 недель (если в течение 3 недель товар не придет, заказ будет отменен). Однако, это не означает, что товар нельзя заказать вновь, поскольку в некоторых случаях возможны и более поздние поставки.


Технические характеристики
Издательство:
Наука
Дата выхода:
январь 1997
ISBN:
5-02-024963-7
Тираж:
700 экземпляров
Объём:
274 страниц
Масса:
485 г
Размеры (В × Ш × Т):
24 × 17 × 2 см
Обложка:
твёрдая

В монографии английских ученых освещены основы теории и практики современных неразрушающих рентгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материалов электронной техники. Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые особенно эффективно используются совместно, охвачены все аспекты их применения. Особое внимание уделено интерпретации дифракционных данных и изображений дефектов в кристаллах, а также современной технике исследований, включая использование сверхмощных источников синхротронного излучения.
Для научных работников, инженеров, преподавателей и студентов, специализирующихся в области материаловедения, кристаллофизики и технологии материалов электронной техники.
Пер. с англ.



Полная версия

Мы принимаем
Подробнее об оплате

1996-2025 © OTALEX