Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография

Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография

Д. Боуэн

     

бумажная книга



Издательство: Наука
Дата выхода: январь 1997
ISBN: 5-02-024963-7
Тираж: 700 экземпляров
Объём: 274 страниц
Масса: 485 г
Размеры(В x Ш x Т), см: 24 x 17 x 2
Обложка: твёрдая

В монографии английских ученых освещены основы теории и практики современных неразрушающих рентгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материалов электронной техники. Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые особенно эффективно используются совместно, охвачены все аспекты их применения. Особое внимание уделено интерпретации дифракционных данных и изображений дефектов в кристаллах, а также современной технике исследований, включая использование сверхмощных источников синхротронного излучения.
Для научных работников, инженеров, преподавателей и студентов, специализирующихся в области материаловедения, кристаллофизики и технологии материалов электронной техники.
Пер. с англ.

Каталог