Учебное пособие предназначено для студентов специальностей 170400 (МЛК), 170200 (МОН), 260100 (ЛИ), 330600 (БТП), 090700 (ПЭМГ), 090600 (РЭНГМ), 090800 (БС) и других, изучающих дисциплину "Метрология, стандартизация и сертификация".
Изложены основные положения теоретической и законодательной метрологии. Рассмотрены теоретические основы метрологии на современном этапе, исторические аспекты и положения метрологии нанотехнологий и квантовых процессов - как особого вида измерений физических величин. Описаны виды и методы средств измерений; международная система единиц и характеристика применяемых единиц измерений, а также погрешности и их классификация.