Издательство: | Книга по требованию |
Дата выхода: | июль 2011 |
ISBN: | 978-6-1303-3254-9 |
Объём: | 84 страниц |
Масса: | 147 г |
Размеры(В x Ш x Т), см: | 23 x 16 x 1 |
High Quality Content by WIKIPEDIA articles! X-ray scattering techniques are a family of non-destructive analytical techniques which reveal information about the crystallographic structure, chemical composition, and physical properties of materials and thin films. These techniques are based on observing the scattered intensity of an X-ray beam hitting a sample as a function of incident and scattered angle, polarization, and wavelength or energy.
Данное издание не является оригинальным. Книга печатается по технологии принт-он-деманд после получения заказа.