Закономерности образования структурных дефектов полупроводниках А2В6

Закономерности образования структурных дефектов полупроводниках А2В6

Юрий Логинов Пол Браун К. Дьюроуз

     

бумажная книга



Издательство: Логос
Дата выхода: июль 2003
ISBN: 5-94010-214-X
Тираж: 1 000 экземпляров
Объём: 304 страниц
Масса: 435 г
Размеры(В x Ш x Т), см: 22 x 15 x 2
Обложка: твёрдая

Для специалистов-физиков

Каталог