6.22 USD
Наличие на складе:
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 11.10.2024; планируемая отправка: 12.10.2024
Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 14.10.2024; планируемая отправка: 15.10.2024
Издательство: | Флинта |
Дата выхода: | январь 2007 |
ISBN: | 978-5-9765-0207-9 |
Тираж: | 1 000 экземпляров |
Объём: | 224 страниц |
Масса: | 330 г |
Размеры(В x Ш x Т), см: | 22 x 15 x 2 |
Обложка: | твёрдая |
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований.
Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.
2009, январь: книга на бумаге "Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей", ISBN: 978-5-02-034811-0, издательство "Наука", 224 стр., твёрдая обложка, тираж 1000 экземпляров |
Нет в продаже
0 отзывов |
|
2007, январь: книга на бумаге "Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей", ISBN: 978-5-9765-0207-9, издательство "Флинта", 224 стр., твёрдая обложка, тираж 1000 экземпляров |
В продаже
0 отзывов |